Dieses Buch, das aus der Reihe Materials Science and Technology hervorging, gewährt einen detaillierten Einblick in die physikalischen Grundlagen und Abbildungstechnik von STM, AFM und verwandten berührungsfreien Methoden zur Charakterisierung von Oberflächen auf atomarer Ebene. Anwendungen der Methoden, zum Beispiel zur Manipulation von Atomen und Klustern im Nanometer- Bereich werden eingehend behandelt. Viele exzellente Abbildungen zeigen die Bedeutung dieser Methode für die Untersuchung von Oberflächen und der Prozesse, die dort ablaufen.
Behandelt werden unter anderem:
Halbleiter Oberflächen und Grenzflächen * Isolatoren
* Schichtstrukturen * Supraleiter * Elektrochemie and Flüssig- Fest-Grenzflächen * Biologische Systeme * Meteorologische Anwendungen * Oberflächenkräfte im Nanometer-Bereich
* Nanotribologie * Manipulationen im Nanometerbereich
Das Werk richtet sich gleichermaßen an Materialwissenschaftler, Oberfächenchemiker und -physiker, Elektrochemiker sowie Katalyse- chemiker und Wissenschafter in der Mikroelektronikindustrie.
Behandelt werden unter anderem:
Halbleiter Oberflächen und Grenzflächen * Isolatoren
* Schichtstrukturen * Supraleiter * Elektrochemie and Flüssig- Fest-Grenzflächen * Biologische Systeme * Meteorologische Anwendungen * Oberflächenkräfte im Nanometer-Bereich
* Nanotribologie * Manipulationen im Nanometerbereich
Das Werk richtet sich gleichermaßen an Materialwissenschaftler, Oberfächenchemiker und -physiker, Elektrochemiker sowie Katalyse- chemiker und Wissenschafter in der Mikroelektronikindustrie.
Mục lục
IntroductionScanning Tunneling Microscopy (STM)
Atomic Force Microscopy/
Manipulation of Atoms and Atom Clusters on the Nanoscale
Spin.Offs of STM – Non-Contact Nanoscale Probes
Acknowledgements
References
Ngôn ngữ Anh ● định dạng PDF ● Trang 163 ● ISBN 9783527615940 ● Kích thước tập tin 15.2 MB ● Nhà xuất bản Wiley-VCH ● Được phát hành 2008 ● Phiên bản 1 ● Có thể tải xuống 24 tháng ● Tiền tệ EUR ● TÔI 2455309 ● Sao chép bảo vệ Adobe DRM
Yêu cầu trình đọc ebook có khả năng DRM