El Hami Abdelkhalak & Pierre Richard Dahoo 
Applications et metrologie a l’echelle nanometrique 1 

Les innovations en rupture dans les domaines de l’ingenierie quantique et des nanosystemes s’appuient sur les methodes developpees en recherche. Une maitrise des techniques de mesure et de l’application de modeles theoriques bases sur les principes de la mecanique quantique sont necessaires.Cet ouvrage presente des methodes experimentales pour developper et caracteriser les materiaux a l’echelle nanometrique, pour des cas pratiques d’applications des ondes electromagnetiques tels que la 5G ou l’heterodynage en optique. Il traite egalement des materiaux intelligents par le couplage electromecanique des piezoelectriques, en se focalisant sur la reduction des echelles et sur les applications electromecaniques. L’utilite des methodes d’analyse statistique basees sur les facteurs de s Arete et sur les techniques de calcul les plus avancees en fiabilite est demontree pour l’optimisation des systemes employes dans la caracterisation, l’experimentation et la conception de produits industriels.