Pierre Richard Dahoo & Abdelkhalak El Hami 
Defauts a l’echelle nanometrique en lumiere polarisee 

La serie Fiabilite des systemes multiphysiques s’interesse aux avancees de la recherche et de l’industrie appliquees aux domaines de l’optimisation, de la fiabilite et de la prise en compte des incertitudes des systemes. Ce couplage est a la base de la competitivite des entreprises dans les secteurs de l’automobile, de l’aeronautique, du genie civil ou de la defense.Par son approche interdisciplinaire, la mecatronique permet l’integration en synergie de la mecanique, de l’electronique, de l’automatique et de l’informatique dans la conception et la fabrication d’un produit en vue d’optimiser sa fonctionnalite. Cet ouvrage etudie la detection des defauts de materiaux par la lumiere polarisee a partir d’une analyse optimisee des donnees experimentales basee sur des modeles statistiques et theoriques. Les methodes mises en oeuvre dans le cadre de recherches fondamentales sur les materiaux innovants sont explicitement decrites. Defauts a l’echelle nanometrique en lumiere polariseedeveloppe egalement les differentes theories sur la lumiere, ses etats de polarisation et son interaction avec la matiere. Il presente les techniques optiques de type sonde et pompe-sonde qui permettent de caracteriser les defauts des materiaux susceptibles d’impacter la performance d’un produit.