แว่นขยาย
ตัวโหลดการค้นหา

Robin M. Boylorn & Mark P. Orbe 
Critical Autoethnography 
Intersecting Cultural Identities in Everyday Life

สนับสนุน

Critical Autoethnography: Intersecting Cultural Identities in Everyday Life, Second Edition, examines the development of the field of critical autoethnography through the lens of social identity. Contributors situate interpersonal and intercultural experiences of gender, race, ethnicity, ability, citizenship, sexuality, and spirituality within larger systems of power, oppression, and privilege.


Approachable and accessible narratives highlight intersectional experiences of marginalization and interrogate social injustices. The book is divided into three sections: Complexities of Identity Performance, Relationships in Diverse Contexts, and Pathways to Culturally Authentic Selves. Each thematic section includes provocative stories that critically engage personal and cultural narratives through a lens of difference. The chapters in the book highlight both unique and ubiquitous, extraordinary and common experiences in the interior lives of people who are Othered because of at least two overlapping identities. The contributors offer first person accounts to suggest critical responses and alternatives to injustice.


The book also includes sectional summaries and discussion questions to facilitate dialogue and self-reflection. It is an excellent resource for undergraduate students, graduate students, educators, and scholars who are interested in autoethnography, interpersonal and intercultural communication, qualitative studies, personal narrative, cultural studies, and performance studies.

€46.48
วิธีการชำระเงิน
รูป PDF ● หน้า 266 ● ISBN 9781000261424 ● บรรณาธิการ Robin M. Boylorn & Mark P. Orbe ● สำนักพิมพ์ Taylor and Francis ● การตีพิมพ์ 2020 ● ที่สามารถดาวน์โหลดได้ 3 ครั้ง ● เงินตรา EUR ● ID 7650740 ● ป้องกันการคัดลอก Adobe DRM
ต้องใช้เครื่องอ่านหนังสืออิเล็กทรอนิกส์ที่มีความสามารถ DRM

หนังสืออิเล็กทรอนิกส์เพิ่มเติมจากผู้แต่งคนเดียวกัน / บรรณาธิการ

82,057 หนังสืออิเล็กทรอนิกส์ในหมวดหมู่นี้