Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links describes in detail several new and promising techniques for cost-effectively testing high-speed interfaces with a high test coverage. One primary focus of Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links is on efficient testing methods for jitter and bit-error-rate (BER), which are widely used for quantifying the quality of a communication system. Various analysis as well as experimental results are presented to demonstrate the validity of the presented techniques.
€139.09
สารบัญ
An Efficient Jitter Measurement Technique.- BER Estimation for Linear Clock and Data Recovery Circuit.- BER Estimation for Non-linear Clock and Data Recovery Circuit.- Gaps in Timing Margining Test.- An Accurate Jitter Estimation Technique.- A Two-Tone Test Method for Continuous-Time Adaptive Equalizers.- Conclusions.
ภาษา อังกฤษ ● รูป PDF ● หน้า 98 ● ISBN 9789048134434 ● ขนาดไฟล์ 3.1 MB ● สำนักพิมพ์ Springer Netherland ● เมือง Dordrecht ● ประเทศ NL ● การตีพิมพ์ 2009 ● ที่สามารถดาวน์โหลดได้ 24 เดือน ● เงินตรา EUR ● ID 2221076 ● ป้องกันการคัดลอก โซเชียล DRM
หนังสืออิเล็กทรอนิกส์เพิ่มเติมจากผู้แต่งคนเดียวกัน / บรรณาธิการ
3,523 หนังสืออิเล็กทรอนิกส์ในหมวดหมู่นี้
